內連接式植體因連接機制受限，使頸部壁厚最薄，成為最容易發生斷裂的區域，而Blue Diamond植體透過創新的設計，可提升植體—abutment連接穩定性與改善咬合力分佈，有效降低內連接式植體的機械性併發症，特別適用於高咬合應力或異常咬合習慣的患者。此外，透過 Plasma X 電漿處理（也稱 XpeedActive ）可確保植體表面高親水性，促進更高的初期穩定與更快的骨整合。

本文中的案例為一名40歲男性患者，# 26於42個月前接受了側窗頂竇手術並植入植體，於4個月後裝上最終假牙，然而，在38個月後的回診時，患者表示螺絲會反覆鬆脫、腫脹與疼痛，影像檢查顯示，植體的遠心側出現crater-like marginal bone loss且發現植體位置過於靠近頰側，導致植體承受離軸載荷（off-axis load），使abutment的連接處不穩，最終造成植體頸部斷裂。

為解決此問題，治療團隊採用 Blue Diamond XpeedActive 4.8×10.0mm 植體，在植入時將位置選擇於更靠近顎側以改善咬合軸線，同時於頰側骨缺損區進行補骨並覆蓋膠原膜。Blue Diamond 植體的連接設計更接近頂端，搭配較小的莫氏錐度，可有效提升整體結構穩定性、降低斷裂風險。此外，經 Plasma X 電漿處理後，植體表面親水性顯著提升，不僅確保高初期穩定性，更能在短短 12 週內達到loading條件，為患者提供可靠且迅速的解決方案。